Charla:

Microscopia Electrónica de Alta Resolución de Emisión de Campo. Beneficios y aplicaciones de uso

Categoría: Centros de Investigación
Miércoles 20 de noviembre, 2:00 p. m.

www.ciemic@ucr.ac.cr

Organiza: Centro de Investigación en Estructuras Microscópicas
Participantes:

Ing. Cristopher Arciga, gerente de línea de Microscopia Electrónica de Carl Zeiss de México